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发明名称 SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE
摘要
申请公布号 JPH1114704(A) 申请公布日期 1999.01.22
申请号 JP19970166771 申请日期 1997.06.24
申请人 ADVANTEST CORP 发明人 CHOKAI TAKASHI
分类号 G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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