| 发明名称 |
MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE OF INCLINATION OF FREE SURFACE OF POWDER/GRAIN LAYER IN DEPOSITED CONDITION |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH1114331(A) |
申请公布日期 |
1999.01.22 |
| 申请号 |
JP19970168286 |
申请日期 |
1997.06.25 |
| 申请人 |
HOSOKAWA MICRON CORP |
发明人 |
SASABE SHUJI;TAKEBAYASHI KENJI;YOKOYAMA TOYOKAZU |
| 分类号 |
G01C9/06;G01B11/26;G01N11/00;(IPC1-7):G01B11/26 |
主分类号 |
G01C9/06 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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