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发明名称 IC TEST DEVICE AND METHOD THEREOF
摘要
申请公布号 JPH1114702(A) 申请公布日期 1999.01.22
申请号 JP19970162145 申请日期 1997.06.19
申请人 NEC IC MICROCOMPUT SYST LTD 发明人 KAWAMURA KAZUYA
分类号 G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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