发明名称 TEST CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPH1116393(A) 申请公布日期 1999.01.22
申请号 JP19970180467 申请日期 1997.06.20
申请人 NEC CORP 发明人 TSUCHIDA HIROHISA
分类号 G01R31/28;G06F11/22;G06F12/16;G11C11/413;G11C29/00;G11C29/02;G11C29/12;G11C29/40;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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