| 主权项 |
1.一种监视通道品质之电路包括:一参考位准产生器供应一代表多个参考位准的参考窗口;一比较器耦合至该参考位准产生器基于该参考窗口及一通道信号以产生一输出信号;一计数器耦合至该比较器以追踪来自该通道落于该参考窗口的信号数。2.如申请专利范围第1项所述之电路更包括:一第二参考产生器供应第二个代表多参考位准的参考窗口;一第二计数器耦合至该第二比较器以追踪来自该通道落于该第二参考窗口的信号数,该比较器耦合至该计数器;具输入端子的一加成电路耦合至该参考产生器及供应输出至该计数器。3.如申请专利范围第2项所述之电路更包括:具多输入的多工器耦合至该加成电路及该计数器。4.如申请专利范围第3项所述之电路更包括:供输出一串接输出的串接埠暂存器。5.如申请专利范围第4项所述之电路其中该串接埠暂存器供应一回授调整信号给该参考产生器。6.如申请专利范围第1项所述之电路其中该参考位准产生器包括:一电压分压器耦合至一参考位准输入且提供至少两个不同位准的输出;一位准移位器耦合至一输入信号且提供一移位位准输出;一位准控制器耦合至该电压分压器,该位准移位器,及一位准调整信号;一第一比较器耦合至该电压分压器及该位准移位器;一第二比较器耦合至该电压分压器及该位准移位器;一及闸(AND)耦合至该第一比较器及第二比较器的输出。7.一种监视通道品质的方法包括下列步骤:产生一参考窗口;将一通道信号与该参考窗口比较;当该通道信号在该参考窗口内时产生一匹配信号;计数落于该参考窗口内之通道信号数。8.如申请专利范围第7项所述之方法更包括下列步骤:产生一第二参考窗口;将一通道信号与该第二参考窗口比较;当该通道信号在该第二参考窗口内时产生一匹配信号;计数落于该第二参考窗口内之通道信号数。9.如申请专利范围第8项所述之方法更包括:将落于该第一参考窗口的该通道信号数及落于该第二参考窗口的该通道信号数相加的步骤。10.如申请专利范围第8项所述之方法更包括:计数落于该第一及第二参考窗口之外道信号数的步骤。11.如申请专利范围第9项所述之方法更包括:串接输出该落于该第一参考窗口及落于该第二参考窗口的该加总数的通道信号的步骤。12.如申请专利范围第11项所述之方法更包括:提供该串接输出至该第一及第二参考产生器作回授之用的步骤。13.一种在磁碟驱动器读取信号系统的校正方法,该系统包括:一等化器及滤波器,该方法包括下列步骤:产生多个参考窗口,每一该多个参考窗口至少指定两个位准;将一参考信号与每一该多个参考窗口比较且于该通道信号落在该多个参考窗口之一之内时输出一个〝命中〞的输出信号;为一连串的通道信号计算命中的信号数;提供该命中的信号数给回授回路以调整该多个参考窗口的大小;调整该滤波器及该等化器的特性以增加命中的信号数。14.如申请专利范围第13项所述之方法更包括:调整该磁碟驱动器系统参数以增加命中的信号数的步骤。15.如申请专利范围第13项所述之方法更包括:包括将一通道信号与每一该多个参考窗口比较,及当该通道信号在该多个参考窗口之外时输出一漏失输出信号的步骤。16.如申请专利范围第15项所述之方法更包括下列步骤:调整该滤波器及该等化器以减少信号漏失的数目。17.如申请专利范围第15项所述之方法更包括下列步骤:调整该磁碟驱动器系统参数以减少信号漏失数。图式简单说明:第一图为读取通道监视器系统使用MSE(均方根误差)技术之PRML(部分响应最大似真)系统习知技术的方块图。第二图显示为频带宽度及增益函数之均方根误差(MSE)。第三图表示经由映射相对于参数之二进位误差率(BER)等高线,性能为10-6BER的最佳化读取通道;第四图显示在输入信号加入白色高斯杂讯之通道边际化系统的习知技术方块图;第五图表示在数位记录系统之磁化模式m(t)其中使用两个稳态磁性媒体记录资讯位元;第六图说明在一磁碟表面形成之记录模式。第七图为依据本发明一较佳实施例产生目标窗口位准之目标(TARGET)电路方块图。第八图为产生三个临界目标(+1.0.-1)之累积取样値之电路图。第九图为本发明之较佳实施例系统校正流程图。第十图为本发明之较佳实施例n临界目标方块图。 |
