| 摘要 |
<p>Beschrieben wird ein Verfahren und eine Schaltungsanordnung zur Kompensation temperatur-, spannungs- sowie herstellungsbedingter Schwankungen bei CMOS-Bildsensoren, die mit Strahlung beaufschlagt werden und in Abhängigkeit der Bestrahlungsstärke elektrische Ausgangssignale generieren, die einer logarithmischen Kennlinie unterliegen. Das erfindungsgemäße Verfahren zeichnet sich durch die Kombination der folgenden Verfahrensschritte aus: Mittels wenigstens zweier Referenz-CMOS-Sensoren, die auf gleichem Temperaturniveau gehalten werden, wie die zu kompensierenden CMOS-Bildsensoren, jedoch nicht bestrahlt werden, werden zwei Referenzsignale generiert, von denen einer einem Referenz-Dunkelwert und der andere, durch Beaufschlagen mittels elektrischem Strom, einem Referenz-Hellwert entspricht. Die generierten Referenzsignale werden getrennt voneinader derart verstärkt, daß die Verstärkungsbedingungen identisch mit der Verstärkung der zu kompensierenden Ausgangssignale sind. Die Referenzsignale werden mit einem zu den elektrischen Ausgangssignalen der zu kompensierenden CMOS-Bildsensoren identischen Temperaturgang einem A/D-Wandler zugeführt. In einer Speichereinheit ist für jeden einzelnen zu kompensierenden CMOS-Bildsensorpunkt wenigstens ein Korrekturwert abgespeichert, der zur Kompensation herstellungsbedingter Schwankungen geeignet ist und zur Korrektur auf das jeweilige zu kompensierende Ausgangssignal beaufschlagt wird, so daß FPN (=fixed pattern noise)-korrigierte Ausgangssignale gewonnen werden. Die FPN-korrigierten Ausgangssignale sowie die erhaltenen Referenzsignale werden dem A/D-Wandler zugeführt, in dem die Ausgangssignale des CMOS-Bildsensors kompensiert und in digitale Signale umgesetzt werden. Die erfindungsgemäße Schaltungsanordnung dient der Durchführung des Verfahrens.</p> |
