首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 METHOD AND APPARATUS FOR TESTING A STATIC RAM
摘要
申请公布号 KR0158648(B1) 申请公布日期 1999.01.15
申请号 KR19950041534 申请日期 1995.11.15
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO.,LTD 发明人 BANG, SUNG-CHO
分类号 G11B20/00;(IPC1-7):G11B20/00 主分类号 G11B20/00
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com