| 发明名称 |
PROGRAM MEMORY TESTING DEVICE AND METHOD FOR ONE CHIP MICROCOMPUTER |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR0166791(B1) |
申请公布日期 |
1999.01.15 |
| 申请号 |
KR19940025719 |
申请日期 |
1994.10.07 |
| 申请人 |
LG SEMICONDUCTOR CO., LTD. |
发明人 |
PARK, YONG-SEUNG |
| 分类号 |
G01R31/28;G06F11/22;G06F12/16;G06F15/78;G11C29/00;G11C29/56;(IPC1-7):G06F11/22 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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