发明名称 | 倾斜检测装置 | ||
摘要 | 一种倾斜检测装置。包括形成在一绝缘壳体内部中的球体容纳部分的一部分中的一凸起。在该绝缘壳体中,两导电销以一预定间隔相互并行地配置在其上,并具有一较大的直径部分,一较小的直径部分和它们之间的一台阶。在该球体容纳部分中,一导电球被装于其中,当该绝缘壳体被倾斜时,该导电球可在该球体容纳部分中沿该两导电销的纵向移动该导电球位于该较大直径部分上的一位置以与该两导电销电接触而输出一对应的检测信号。 | ||
申请公布号 | CN1204764A | 申请公布日期 | 1999.01.13 |
申请号 | CN98102805.5 | 申请日期 | 1998.07.02 |
申请人 | 卡西欧计算机株式会社 | 发明人 | 棚沢正义;南俊二 |
分类号 | G01B7/30 | 主分类号 | G01B7/30 |
代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人 | 韩宏 |
主权项 | 1、一种倾斜检测装置,包括:一绝缘壳体,在其内部形成的一球体容纳部分的一部分中有一凸起;两导电销,以一预定间隔相互平行地配置在该绝缘壳体中,并具有一较大直径部分、一较小直径部分及它们之间的一台阶;和一导电球,容纳在该绝缘壳体的球体容纳部分中并当该绝缘壳体被倾斜时,可沿该两导电销的纵向移动;其中形成该凸起以具有一高度,使得当该绝缘壳体被倾斜且该导电球位于两导电销的较大直径部分上的一位置时,该两导电销与该导电球发生电接触,而当该绝缘壳体被倾斜且该导电球位于两导电销的较小直径部分上的一位置时,该导电球与该凸起相接触,而不与该两导电销中的至少一个发生电接触。 | ||
地址 | 日本东京 |