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发明名称
METHOD AND DEVICE FOR MEASURING GATE LENGTH OF MOSFET DEVICE
摘要
申请公布号
JPH118282(A)
申请公布日期
1999.01.12
申请号
JP19970158554
申请日期
1997.06.16
申请人
NEC CORP
发明人
HATANAKA YUKICHI
分类号
G01R31/26;H01L21/66;H01L29/78;(IPC1-7):H01L21/66
主分类号
G01R31/26
代理机构
代理人
主权项
地址
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