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发明名称 X-ray examination apparatus with X-ray image sensor matrix and correction unit
摘要
申请公布号 EP0888686(A2) 申请公布日期 1999.01.07
申请号 EP19970947194 申请日期 1997.12.23
申请人 KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. 发明人 CONRADS, NORBERT;WEIBRECHT, MARTIN;SCHIEBEL, ULRICH;WIECZOREK, HERFRIED, KARL
分类号 H04N5/32;A61B6/00;H04N5/325;H04N5/359;(IPC1-7):H04N5/32 主分类号 H04N5/32
代理机构 代理人
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