发明名称 |
METHOD AND DEVICE FOR MEASURING AXIAL DEVIATION IN A TAUTWIRE ALIGNMENT SYSTEM |
摘要 |
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申请公布号 |
EP0888520(A1) |
申请公布日期 |
1999.01.07 |
申请号 |
EP19960946368 |
申请日期 |
1996.11.13 |
申请人 |
NANOTEC SOLUTION |
发明人 |
LETEURTRE, PATRICK;OSSART, FREDERIC |
分类号 |
G01C15/00;G01B7/31;(IPC1-7):G01B7/31;G01B7/34 |
主分类号 |
G01C15/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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