发明名称 METHOD AND DEVICE FOR MEASURING AXIAL DEVIATION IN A TAUTWIRE ALIGNMENT SYSTEM
摘要
申请公布号 EP0888520(A1) 申请公布日期 1999.01.07
申请号 EP19960946368 申请日期 1996.11.13
申请人 NANOTEC SOLUTION 发明人 LETEURTRE, PATRICK;OSSART, FREDERIC
分类号 G01C15/00;G01B7/31;(IPC1-7):G01B7/31;G01B7/34 主分类号 G01C15/00
代理机构 代理人
主权项
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