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发明名称 Built-in self test for integrated circuits
摘要
申请公布号 EP0472818(B1) 申请公布日期 1998.12.30
申请号 EP19910107420 申请日期 1991.05.07
申请人 INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION 发明人 DREIBELBIS, JEFFREY HARRIS;HEDBERG, ERIK LEIGH;PETROVICK, JOHN GEORGE
分类号 G01R31/28;G06F11/22;G06F11/27;G06F15/78;G11C29/10;G11C29/12;G11C29/16;G11C29/38;G11C29/44;H01L27/10;(IPC1-7):G06F11/26;G11C29/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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