集成电路IC测试装置

摘要

公开了通过允许对被测试IC的一种状态识别采用适当的方法,使对每种IC都是方便、简捷的,从而克服了已有技术缺点的IC测试装置。IC测试装置包括一个控制器,该控制器上装有IC插座2和由方孔30集中构成的插座导向件3,且所述IC插座2要插入安装于其中的一个具有光辐射端的发射光导向件被嵌入所述插座导向件3中,其中在所述光辐射端上形成了一个光反射面r。

主权项

1.一种具有一个控制器的IC测试装置，所述控制器顺次地将被测IC安装于所述IC插座上并将测过的IC从该插座上拿走，所述测试装置将一个测试信号加到被测IC上，以便进行测量，所述IC测试装置包括一个可拆卸地安装于所述控制器上的插座导向件；一个IC插座，它居中地安装于所述插座导向件上，且用来安装被测IC；具有一个置于所述插座导向件外围边缘的光入射端的发射光导向件装置，用来引导穿过一空间的入射光和发射光，在所述空间中，所述被测IC安装于所述插座上；具有为接收穿过安装了所述IC的空间的光而放置在邻近于所述IC插座的外围边缘的光入射端的接收光导向件向装置，用来引导接收的光及在所述插座导向件的外围边缘具有一个将收到的光通过这里射出的光发射端；固定于所述控制器上的光发射器装置，具有一个与发射光导向件装置的所述光入射端相对并与其具有一段距离的光发射端；及一个固定于所述控制器上的光接收器装置，并具有一个与所述接收光导向件装置的光发射端相对且与其具有一段距离的光接收端。