发明名称 | 声频辐射在岩层分析中的用途 | ||
摘要 | 本发明涉及一种测定含流体测井周围的岩层和胶结物两种物质之一的特性曲线的方法。该方法包括:将一声波传感器置于测井中的选定位置,该声波传感器适于提供代表来自所述物质的声波的信号;所述流体施加一选定的压强,从而在所述物质中产生机械应力,所述应力导致所述物质辐射出声波使所述传感器探测所述声频辐射,并提供一代表所述声频辐射的信号;从所述信号和所述施加于流体的压强确定出所述特性曲线。 | ||
申请公布号 | CN1203670A | 申请公布日期 | 1998.12.30 |
申请号 | CN96198855.X | 申请日期 | 1996.12.06 |
申请人 | 国际壳牌研究有限公司 | 发明人 | 雅各布斯·亨德里库斯·皮特鲁斯·玛丽娅·艾曼;克尔内里斯·詹·肯特 |
分类号 | G01V1/44 | 主分类号 | G01V1/44 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 王以平 |
主权项 | 1、一种测定含流体测井周围的岩层和胶结物两种物质之一的特性曲线的方法,该方法包括:——将一声波传感器置于测井中的选定位置,该声波传感器适于提供代表来自所述物质的声波的信号;——向所述流体施加一选定的压强,从而在所述物质中产生机械应力,所述应力导致所述物质辐射出声波;——使所述传感器探测所述声频辐射,并提供一代表所述声频辐射的信号;和——从所述信号和所述施加于流体的压强确定出特性曲线。 | ||
地址 | 荷兰海牙 |