发明名称 DRAM with gain memory cells
摘要 DRAM-Zellenanordnung mit dynamischen selbstverstärkenden Speicherzellen und Verfahren zu deren Herstellung. In einer selbstverstärkenden dynamischen Speicherzellenanordnung weist jede Speicherzelle einen Auswahltransistor, einen Speichertransistor und eine Diodenstruktur auf. Auswahltransistor und Speichertransistor sind jeweils als vertikale MOS-Transistoren ausgebildet und übereinander angeordnet. Sie sind über ein gemeinsames Source-/Drain-Gebiet (7') miteinander verbunden. Ein Source-/Drain-Gebiet (2) des Speichertransistors ist mit einer Versorgungsspannungsleitung, ein Source-/Drain-Gebiet (5') des Auswahltransistors mit einer Bitleitung, die Gateelektrode (19) des Auswahltransistors mit einer Wortleitung verbunden. Zwischen das gemeinsame Source-/Drain-Gebiet (7') und die Gateelektrode (11) des Speichertransistors ist eine Diodenstruktur (11, 12, 14) geschaltet. <IMAGE>
申请公布号 EP0887862(A2) 申请公布日期 1998.12.30
申请号 EP19980105811 申请日期 1998.03.30
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 KRAUTSCHNEIDER, WOLFGANG, DR.;HOFMANN, FRANZ, DR.
分类号 H01L27/10;H01L21/8242;H01L27/108;(IPC1-7):H01L27/108;H01L21/824 主分类号 H01L27/10
代理机构 代理人
主权项
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