发明名称 碟片形电子元件检测分类机构之改良装置
摘要 一种碟片形电子元件检测分类机构之改良装置,系包括:一机台,一进料转盘,一导料机构,一限料板,一拨料机构,一检测机构,一分类机构等部份所构成者。其中该进料转盘枢置在该机台顶板旋转的推动碟片形电子元件进料,以该导料机构的螺旋线导行板和该限料板凹弧缘导入该拨料机构的拨料板拨料槽,操作的拨进该检测机构绝缘座板由数真空吸力通孔吸持定位,等待该检测机构的数支压测针杆压触测知该碟片形电子元件的特性值,即导入该分类机构对应的贮料筒者。
申请公布号 TW348756 申请公布日期 1998.12.21
申请号 TW086201657 申请日期 1997.01.31
申请人 邱显星 发明人 邱显星
分类号 B65G47/74;H05K13/02 主分类号 B65G47/74
代理机构 代理人
主权项 1.一种碟片形电子元件检测分类机构之改良装置, 主要系 包括:一机台,容置各组件,其顶板适当位置挖设一 凹穴 者;一进料转盘,枢设在该机台顶板而置于该机台 顶板凹 穴内,使其顶面齐平于该机台顶板顶面,及由固设 在该机 台顶板底面的一动力装置可调速的传递该进料转 盘旋转者 ;一导料机构,其基座枢连在该进料转盘转轴顶端, 且该 基座底部连设一螺旋线外形的导行板悬置邻近该 进料转盘 顶面适当间隙,并由该基座连设一拨整板杆跨置于 该进料 转盘的上方,及在该拨整板杆位置该进料转盘正上 方处夹 设一拨整片和一进料检测器,且拨整片可操作的调 整其底 缘和该进料转盘顶面距离,仅允许单一的碟片形电 子元件 通过,使拨整相垒的碟片形电子元件分开平躺于该 进料转 盘进料者;一限料板,对应该进料转盘圆弧制成一 弧形板 体,其凹弧缘可调整的固置在该进料转盘和该机台 顶板相 邻附近,及适当位置固设一挡销挡止该导料机构拨 整板杆 ,以固定该导料机构螺旋线外形的导行板位置,使 该限料 板弧缘保持正对该导料机构导行板螺旋线外形的 渐开部份 者;一拨料机构,其摆动轴枢置在该机台顶板上,由 固置 在该机台顶板底面的一传动机构传动摆转,一拨料 板固连 该摆动轴上且挖设一拨料槽于进料方向设一缺口, 及该拨 料槽壁顶缘以摆动轴为中心的呈弧面而邻近该导 料机构导 行板螺旋线顶端和底端交接面,一推料喷气嘴固设 在该拨 料板上,其喷吹动线越过该拨料槽进入一碟片形电 子元件 的距离,该摆转轴上相反该拨料板方向连接一挡杆 ,近挡 杆尾端两侧各固设一缓冲块,及往复摆动的轨道上 对应该 拨料板进料和待进料的往复摆动位置,可调整的各 固设一 挡块限制该拨料板运动位置者;一检测机构,其支 座固设 在该机台顶板上,一滑块可调整的固置在该支座上 ,一直 线运动器固设在该滑块,使其作动杆连设一臂杆可 拆装的 固设数支压测针杆,且该各压测针杆的正下方的该 机台顶 板上可拆装的嵌置一缘座板和该进料转盘顶面齐 平,并穿 设数通孔连接一真空装置者;一分类机构,其入料 盖板固 设在该机台顶板上设置一入料口,于该拨料机构拨 料板进 料定位时正邻接其拨料槽的进料缺口呈一圈围空 间,其入 料通道通道口穿过该机台顶板连通该入料盖板入 料口,而 一分类盘挖设一主料道连接该入料通道设置在该 机台内部 ,并由该主通道对应预设之范围左右旁通数料道, 再于各 旁通料道和主料道连通处各枢设一闸门,依各碟片 形电子 元件测知的范围操作该各闸门的作动器适当的开 或关,以 拦接正确的碟片形电子元件进入对应的贮料筒者 。2.如申请专利范围第1项的碟片形电子元件检测 分类机构 之改良装置,其中该限料板弧缘尾端约和该导料机 构导行 板的螺旋线渐开顶端相齐,使该限料板弧缘和该导 料机构 导行板螺旋线渐开部份邻向夹对所包括的该进料 转盘部份 形成一旋转进料方向渐缩的状况者。3.如申请专 利范围第1项的碟片形电子元件检测分类机构 之改良装置,其中该拨料机构拨料板的底面系滑置 在该进 料转盘顶面,使操作的滑置在该进料转盘和该检测 机构缘 座板间往复运动者。4.如申请专利范围第1项的碟 片形电子元件检测分类机构 之改良装置,其中该拨料机构的拨料板于进料位置 时,其 弧面顶缘系完全封挡该导料机构导行板螺旋渐开 线顶端和 该限料板弧缘尾端间的进料转盘出料口,而在待进 料位置 时,则使拨料机构拨料板拨料槽正对该进料转盘出 料口者 。5.如申请专利范围第1项的碟片形电子元件检测 分类机构 之改良装置,其中该拨料机构拨料板拨料槽拨动进 入的碟 片形电子元件,移入顶推上一个检测的碟片形电子 元件脱 离该数真空吸力通孔,即由该拨料板上固设的推料 喷气嘴 压力空气的助力,在该分类机构入料盖板入料口和 该拨料 板拨料槽的进料缺口的圈围空间内,迅速导入该分 类机构 的入料通道者。6.如申请专利范围第1项的碟片形 电子元件检测分类机构 之改良装置,其中该检测机构的各压测针杆和真空 吸力通 孔的中心位置系垂直的正合该拨料机构拨料板拨 动该碟片 形电子元件到达待检测位置的中心点,并使该各真 空吸力 通孔正含盖在该碟片形电子元件物件的范围内,使 真空吸 力吸持该碟片形电子元件于定位,等待该检测机构 的直线 运动器操作该各压测针杆下行触压检测该碟片形 电子元件 之特性値者。图式简单说明:第一图系本创作整体 的外观 示意图。第二图系本创作的正面剖示图。第三图 系本创作 的侧面剖示图。第四图系本创作的上视示意图。 第五图系 本创作侧面剖示的部份放大示意图。第六图系本 创作上视 的部份放大操作示意图。
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