发明名称 X射线分析装置
摘要 本发明的X射线分析装置其特征在于,设有在对正比计数管输出的脉冲进行脉冲幅度甄别的主脉冲幅度甄别器的道域宽度内形成其甄别道域宽度的副脉冲幅度甄别器,控制正比计数管的驱动电源使该副脉冲幅度甄别器的计数率为规定值。X射线分析时对正比计数管输出的脉冲进行脉冲幅度甄别的主脉冲幅度甄别器的道域宽度根据所测试的X射线波长设定得较窄,且样品测定时可实时地检出测定输出的峰移(能级位移)并进行测定输出的补偿,因而能提高分析精度,其构造也简单。
申请公布号 CN1041238C 申请公布日期 1998.12.16
申请号 CN91110553.0 申请日期 1991.10.30
申请人 株式会社岛津制作所 发明人 河合政夫
分类号 G01T1/18 主分类号 G01T1/18
代理机构 上海专利商标事务所 代理人 颜承根
主权项 1.一种X射线分析装置,其特征在于包括:(a)对探测X射线的正比计数管所输出脉冲中落在规定道域宽度内的输出脉冲进行脉冲幅度甄别的主脉冲幅度甄别器;(b)对所述输出脉冲进行计数并转换为X射线强度信号的装置;(c)动作使得所述正比计数管输出的能级位移归零的补偿器,所述补偿器包括:(i)其道域设定在所述主脉冲幅度甄别器道域宽度范围内的副脉冲幅度甄别器;(ii)根据所述副脉冲幅度甄别器的输出产生一信号对所述正比计数管的驱动电源电压进行控制的运算装置。
地址 日本国京都市