| 发明名称 |
THE TEST CIRCUIT OF MULTI-FUNCTIONAL MICRO-CONTROLLER |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
KR0149258(B1) |
申请公布日期 |
1998.12.15 |
| 申请号 |
KR19950022329 |
申请日期 |
1995.07.26 |
| 申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO.,LTD |
发明人 |
KIM, SANG-BUM |
| 分类号 |
G01R31/26;G01R31/3183;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/26 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
