发明名称 PROBE EQUIPMENT AND LOW TEMPERATURE INSPECTION METHOD
摘要
申请公布号 JPH10321683(A) 申请公布日期 1998.12.04
申请号 JP19970144728 申请日期 1997.05.19
申请人 TOKYO ELECTRON LTD 发明人 AMAMIYA HIROSHI
分类号 G01R1/04;G01R31/28;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 G01R1/04
代理机构 代理人
主权项
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