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发明名称 SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE
摘要
申请公布号 JPH10319089(A) 申请公布日期 1998.12.04
申请号 JP19970130827 申请日期 1997.05.21
申请人 ADVANTEST CORP 发明人 KOZUKA NORIYOSHI
分类号 G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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