Circuit-testing method and apparatus,申请号GB19620013018-传众专利搜索

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法人/股东/高管

发明名称	Circuit-testing method and apparatus
摘要
申请公布号	GB975973(A)	申请公布日期	1964.11.25
申请号	GB19620013018	申请日期	1962.04.04
申请人	HIRST ELECTRONIC LIMITED	发明人	MASON GUY
分类号	G01R27/02	主分类号	G01R27/02
代理机构		代理人
主权项
地址

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