发明名称 Semiconductor memory device executing a memory test
摘要
申请公布号 EP0645776(B1) 申请公布日期 1998.12.02
申请号 EP19940115203 申请日期 1994.09.26
申请人 NEC CORPORATION 发明人 HARAGUCHI, YOSHINORI
分类号 G01R31/28;G01R31/3185;G06F11/22;G11C29/00;G11C29/14;G11C29/46;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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