发明名称 SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING APPARATUS AND ITS METHOD
摘要
申请公布号 KR0155392(B1) 申请公布日期 1998.12.01
申请号 KR19920000075 申请日期 1992.01.07
申请人 TOKYO ELECTRON LTD 发明人 SIBATA, JUNICHIRO
分类号 G01R31/26;G01R1/04;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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