发明名称 FAULT CELL REPAIR CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR MEMORY
摘要
申请公布号 KR0157339(B1) 申请公布日期 1998.12.01
申请号 KR19950017840 申请日期 1995.06.28
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO.,LTD 发明人 NAM, HYO-YUN;SEO, YONG-HO
分类号 G11C11/413;G11C29/00;G11C29/04;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C11/413
代理机构 代理人
主权项
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