Vorrichtung zum elektronischen Prüfen von Leiterplatten mit Kontaktpunkten in extrem feinem Raster (1/20 bis 1/10 Zoll),申请号DE19873752227-传众专利搜索

发明名称	Vorrichtung zum elektronischen Prüfen von Leiterplatten mit Kontaktpunkten in extrem feinem Raster (1/20 bis 1/10 Zoll)
摘要
申请公布号	DE3752227(D1)	申请公布日期	1998.11.19
申请号	DE19873752227	申请日期	1987.07.08
申请人	MANIA ELEKTRONIK AUTOMATISATION ENTWICKLUNG UND GERAETEBAU GMBH, 61276 WEILROD, DE	发明人	DRILLER, HUBERT, DIPL.-PHYS., D-6384 SCHMITTEN 3, DE;MANG, PAUL, D-6384 SCHMITTEN 3, DE
分类号	G01R1/073;(IPC1-7):G01R1/073	主分类号	G01R1/073
代理机构		代理人
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