TESTER FOR LSI,申请号JP19970114874-传众专利搜索

首页产品黄页商标征信

会员服务注册登录

法人/股东/高管

发明名称	TESTER FOR LSI
摘要
申请公布号	JPH10307165(A)	申请公布日期	1998.11.17
申请号	JP19970114874	申请日期	1997.05.02
申请人	NEC CORP	发明人	SAKUYAMA TOMOHIRO
分类号	G01R31/26;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/26	主分类号	G01R31/26
代理机构		代理人
主权项
地址

您可能感兴趣的专利

ДЕПРЕССИОННОЕ УСТРОЙСТВО

ВСТАВКА ДЛЯ ШВОВ ПОЛА

РУЛОННЫЙ ТЕПЛОИЗОЛЯЦИОННЫЙ ЭЛЕМЕНТ

УСТРОЙСТВО ДЛЯ КРЕПЛЕНИЯ НАВЕСНЫХ ПАНЕЛЕЙ ВЕНТИЛИРУЕМОГО ФАСАДА

ТОРЦОВОЕ УПЛОТНЕНИЕ

ШАХТНОЕ СООРУЖЕНИЕ ПУСКОВОЙ УСТАНОВКИ

УСТРОЙСТВО ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАССТОЯНИЯ ОТ ПОДСТАНЦИИ ДО МЕСТА НАРУШЕНИЯ ИЗОЛЯЦИИ ПРОВОДОВ ЛИНИИ ЭЛЕКТРОПЕРЕДАЧИ

УЛЬТРАЗВУКОВОЙ ИНСТРУМЕНТ ДЛЯ ОЧИСТКИ ОТВЕРСТИЙ

СМЕСИТЕЛЬ ДЛЯ ВЯЗКИХ МАТЕРИАЛОВ

ИМПУЛЬСНЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ УСКОРИТЕЛЬ

УСТАНОВКА ЛАБОРАТОРНАЯ ЭФФЕКТИВНОСТЬ И КАЧЕСТВО ОСВЕЩЕНИЯ

УСТРОЙСТВО ДЛЯ РЕКЛАМЫ

СИСТЕМА ФОРМИРОВАНИЯ КОРПОРАТИВНОЙ ПЕНСИОННОЙ ПРОГРАММЫ

УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПАРАЛЛЕЛЬНОГО ДВОИЧНОГО КОДА НА ЧЕТНОСТЬ

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ХОДЬБЫ И БЕГА

МОБИЛЬНОЕ ЗДАНИЕ

ПЕРГАМИН

УСТРОЙСТВО ДЛЯ АКТИВАЦИИ ЖИДКИХ ТЕЛ