| 发明名称 |
Method for accelerated test of semiconductor devices |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
SG54570(A1) |
申请公布日期 |
1998.11.16 |
| 申请号 |
SG19970003530 |
申请日期 |
1997.09.24 |
| 申请人 |
MATSUSHITA ELECTRONICS CORPORATION. |
发明人 |
SHIMADA YASUHIRO;NAKAO KEISAKU;INOUE ATSUO;AZUMA MASAMICHI;FUJII EIJI |
| 分类号 |
G01R31/26;G01R31/28;G01R31/30;G11C11/22;G11C29/50;G11C29/56;H01L21/66;H01L21/822;H01L21/8242;H01L27/04;H01L27/10;H01L27/108;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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