| 发明名称 |
NON-CONTACTING METHOD FOR TESTING AND MEASURING LONGITUDINAL AND LATERAL UNIFORMITY OF CRITICAL CURRENT DENSITY IN STRIP SUPERCONDUCTING MATERIAL AND MEASURING INSTRUMENT USED THEREFOR |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH10300723(A) |
申请公布日期 |
1998.11.13 |
| 申请号 |
JP19980115298 |
申请日期 |
1998.04.24 |
| 申请人 |
FORSCHUNGSZENTRUM KARLSRUHE GMBH |
发明人 |
SCHILLER HEINZ-PETER;SCHAUER WOLFGANG DR;REINER HANS;GRUBE KAI;POLAK MILAN |
| 分类号 |
G01R33/07;G01N27/72;G01R31/00;G01R33/12;(IPC1-7):G01N27/72 |
主分类号 |
G01R33/07 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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