首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 IC TESTER AND IC TESTING METHOD
摘要
申请公布号 JPH10300827(A) 申请公布日期 1998.11.13
申请号 JP19970103691 申请日期 1997.04.21
申请人 ANDO ELECTRIC CO LTD 发明人 ABE HIROAKI
分类号 G01R31/26;G01R31/28;G01R31/3183;(IPC1-7):G01R31/318 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com