发明名称 半导体晶圆自动分离装置
摘要 本发明系关于半导体晶圆自动分离装置,系将研磨完成后之晶圆从晶圆贴附平板上分离,和将晶圆装填至晶圆收纳用托架之一连串的作业于无人化下进行。本发明之构成要素系由:将贴附半导体晶圆之贴附平板1搬运至平板移载装置3之平板搬入机构;及区分有平板接纳台3a,晶圆位置决定台3b,晶圆分离台3c和平板排出台3d之4个部分,而来载置,移动贴附平台1之平台移载装置3;及设置于晶圆位置决定台3b而来检测出贴附平板1上之晶圆的贴附位置之雷射位移计测器7(感知器);及形成具有可插入晶圆10和贴附平板1的间隙之上下移动可能的爪4C,并且可以前后移动的晶圆分离机器人4;及将从晶圆分离台3C之贴附平台1上被分离之晶圆10搬运到晶圆收纳用托运装载机之晶圆搬运机构5;及将晶圆10剥离后之贴附平板1搬出装置外之平板搬出滚子11而构成者。
申请公布号 TW344844 申请公布日期 1998.11.11
申请号 TW085100486 申请日期 1996.01.16
申请人 小松电子金属股份有限公司 发明人 东纯一朗;沟诒浩二;横山和之
分类号 H01L21/00 主分类号 H01L21/00
代理机构 代理人 林志刚 台北巿南京东路二段一二五号七楼
主权项 1.一种半导体晶圆的分离方法,系属于将半导体晶圆贴附于贴附平板后予以研磨之后,从该贴附平板分离半导体晶圆之半导体晶圆的分离方法,其特征为:使具备有晶圆嵌合孔与晶圆分离用的爪插入口之模板挡接于上述贴附平板的晶圆贴附面,然后使上述半导体晶圆收容于上述晶圆嵌合孔内之状态下,藉由晶圆分离用的爪来分离半导体晶圆。2.一种半导体晶圆的分离方法,其特征为:决定贴附于贴附平板的晶圆位置之后,使具有晶圆嵌合孔的模板吸着于位置决定后之贴附平板上,然后再将晶圆收容于该晶圆嵌合孔内,之后藉由晶圆分离用的爪来取出收容于晶圆嵌合孔的晶圆,最后藉由搬送装置从晶圆嵌合孔回收分离后之晶圆。3.一种半导体晶圆自动分离装置的特征系具有:将贴附半导体晶圆之贴附平板搬运至平板移载装置之平板搬入机构;及区分有平板接纳台,晶圆位置决定台,晶圆分离台和平板排出台之4个部分,而来载置,移动贴附平台之平台移载装置;及设置于上述晶圆位置决定台而来检测出贴附平板上之晶圆的贴附位置之感知器;及形成具备有可插入晶圆和贴附平板的间隙之上下移动可能的爪,并且可以前后移动的晶圆分离机构;及昇降自在地设置于上述晶圆分离台的上方,并且具有可收容晶圆的晶圆嵌合孔之模板;及将从晶圆分离台之贴附平台上被分离之晶圆搬运到晶圆收纳用托运装载机之晶圆搬运机构;及将晶圆剥离后之贴附平板从上述平板搬出台搬出之平板搬出机构而构成者。4.一种半导体晶圆分离用模板,其特征为:形成有圆弧状之晶圆嵌合孔,并且其内径要比收容的晶圆直径来得稍大些,同时在模板的外周方向设置有可插入晶圆分离用的爪之爪插入口。5.如申请专利范围第4项之半导体晶圆分离用模板,其中晶圆嵌含孔系形成半圆以上的圆弧状。图式简单说明:第一图系关于本发明之半导体晶圆自动分离装置之平面图。第二图(A)系显示晶圆分离机器人的要部平面图,(B)系要部侧面图。第三图显示使贴附平板吸着于模板的状态之立体图。第四图(A)系显示柏努利卡盘的平面图,(B)系一部份的部面侧面图。第五图(A)系显示使用于习知技术之分离用工具的平面图,(B)系侧面图。
地址 日本