| 摘要 |
<p>Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung (3) zum Prüfen einer Prüfpunkte bzw. Kontaktinseln (22a,22b) und Leiterbahnen aufweisenden elektrischen Leiterplatte (2), mit einem Prüfadapter (16, 17) mit Prüfstiften (33), die sich zwischen Prüfkontakten (39) eines Leiterplatten-Prüfgerätes (13) und den Kontaktinseln (22a, 22b) der zu prüfenden Leiterplatte (2) erstrecken, wobei eine Justiervorrichtung (21a, 21b) vorgesehen ist zum Justieren bzw. Feinverstellen der Prüfstifte (33) und/oder des Prüfadapters (16, 17) und/oder der Leiterplatte (2) quer zu den Prüfstiften (33) und zum Feststellen in der eingestellten Position. <IMAGE></p> |
