发明名称 金氧半导体场效电晶体的闸极氧化物制程
摘要 一种金氧半导体场效电晶体的闸极氧化物制程,包括,闸极氧化物区预清洗,系用以清洗预留为闸极氧化物区之表面,以得良好之表面特性,形成闸极氧化物层,光阻覆盖,曝光及显影,系用以形成闸极氧化物,离子植入,系用以调整该金氧半导体场效电晶体的电性参数,光阻去除,清洗该闸极氧化物,超纯水活化,以及高温回火等;以使经此制程之闸极氧化物的电性测试良率大幅提升。
申请公布号 TW344132 申请公布日期 1998.11.01
申请号 TW084112199 申请日期 1995.11.17
申请人 台湾茂矽电子股份有限公司 发明人 陈汝政;陈瑞琪
分类号 H01L27/105 主分类号 H01L27/105
代理机构 代理人 李锦钟 台北巿松江路一四八号十二楼之三
主权项 1.一种金氧半导体场效电晶体的闸极氧化物制程,包括:闸极氧化物区预清洗,系用以清洗预留为闸极氧化物区之表面,以得良好之表面特性;形成闸极氧化物层;光阻覆盖;曝光;显影,系用以形成闸极氧化物;离子植入,系用以调整该金氧半导体场效电晶体的电性参数;光阻去除;清洗该闸极氧化物;超纯水活化;以及高温回火。2.如申请专利范围第1项之闸极氧化物制程,其中该高温回火步骤系使用氧气,温度约控制于800℃者。3.如申请专利范围第1项之闸极氧化物制程,其中该闸极氧化物层系于高温炉管中通入含有水分之氧气而形成。4.如申请专利范围第1项之闸极氧化物制程,其中该闸极氧化物层之厚度约为100-120A。5.如申请专利范围第1项之闸极氧化物制程,其中上述之超纯水活化系使用刷洗机,并藉由超纯水(DI water)和旋转晶片摩擦。图式简单说明:第一图显示运用习用之制程技术,所得元件闸极氧化物之电性测试(Ebd,Qbd)之结果。第二图显示运用本发明揭露之制程技术,所得元件闸极氧化物之电性测试(Ebd,Qbd)良率之结果。
地址 新竹科学工业园区研新一路一号