发明名称 具有评估光碟之评估图案的光碟
摘要 在一光碟上的内轨道区域中的引入区域中交替地形成坑与地,作为评估光碟之错误率的测试图案,此坑与地具有3T之坑长度,*6T之地长度,7T之坑长度,*3T之地长度,6T之坑长度与*7T之地长度。此由一再生系统来再生此测试图案以侦测错误率,得到一补偿系数以使错误率减至最小,且藉由使用此补偿系数而补偿一再生信号,使得可由再生系统来再生具有最小错误率之再生信号。
申请公布号 TW344070 申请公布日期 1998.11.01
申请号 TW085104391 申请日期 1996.04.12
申请人 东芝股份有限公司 发明人 佐藤裕治;藤本定也
分类号 G11B20/12;G11B20/18 主分类号 G11B20/12
代理机构 代理人 林志刚 台北巿南京东路二段一二五号七楼
主权项 1.一种光碟,包含:一资料区域,其上资料记录于一 图案 的坑与地中,该坑具有最短的坑长度(3T)、最长的 坑长度 (kT)及介于该最短坑长度(3T)与该最长坑长度(kT)之 间之 坑长度等三者之一,这里T为波道坑长度,3<m<n<k且n 、m与k为整数,该地具有最短非坑长度(*3T)、最长 非坑 长度(*kT)、及介于该最短非坑长度(*3T)与该最长非 坑 长度(*kT)之间的非坑长度等三者之一;及一测试图 案区 域,设于该资料区域外侧且记录具有坑及地之测试 图案, 该测试图案具有重覆之预定配置,每一配置均具有 下述之 坑及地,坑长度为3T、mT、nT的其中之一的坑,地长 度为 *3T、*mT、*nT的其中之一的地,坑长度为3T、mT、nT 的其中之其它一个的坑,地长度为*3T、*mT、*nT的其 中之一的地,坑长度为3T、mT、nT的其中之另外一个 的坑 ,地长度为*3T、*mT、*nT的其中之其余一个的地。2. 如申请专利范围第1项之光碟,其中该资料区域界 定于 ,内轨道区域中的引入区域与外轨道区域中的引出 区域之 间,且该测试图案区域提供于该引入区域中。3.如 申请专利范围第1项之光碟,其中m与n≧6,m≦n,且 m与n≦14(=k)。4.如申请专利范围第1项之光碟,其中 坑具有最短坑长度 3T、最长坑长度14T和该最短坑长度3T与该最长坑长 度14T 之间的预定坑长度4T,5T,6T,7T,8T,9T,10T,11T, 12T或13T的其中之一,且地具有最短非坑长度*3T、最 长 非坑长度*14T和该最短非坑长度*3T与该最长非坑长 度 *14T之间的预定非坑长度*4T,*5T,*6T,*7T,* 8T,*9T,*10T,*11T,*12T或*13T的其中之一。5.如申请专利 范围第1项之光碟,其中在该测试图案区域 中记录一重覆图案的位元、地与坑,位元具有坑长 度3T, 地具有地长度*6T(m=6),坑具有坑长度7T(n=7),地具 有地长度*3T,坑具有坑长度6T(m=6),及地具有地长度 *7T。6.如申请专利范围第3项之光碟,其中一图案的 坑、地与 坑等于一码字"0010000010000001",坑具有该坑长度3T, 地具有该地长度*6T(m=6),且坑具有坑长度7T(n=7)。7. 如申请专利范围第3项之光碟取还装置,其中m=6且n= 7,且一图案的重覆之坑与地系选自:3T-*6T-7T-*3T- 6T-*7T长度、3T-*7T-6T-*3T-7T-*6T长度、6T-*3T- 7T-*6T-3T-*7T长度、7T-*3T-6T-*7T-3T-*6T长度、 6T-*7T-3T-*6T-7T-*3T长度、与7T-*6T-3T-*7T-6T- *3T长度的其中之一。8.一种光碟取还装置,包含:读 取装置,用于从光碟光学 地读取测试图案及资料作为再生信号,其中该光碟 设有一 资料区域,其上资料记录于一图案的坑与地中,该 坑具有 最短的坑长度(3T)、最长的坑长度(kT)及介于该最 短坑长 度(3T)与该最长坑长度(kT)之间之坑长度等三者之 一,这 里T为波道坑长度,3<m<n<k且n、m与k为整数,该地具 有最短非坑长度(*3T)、最长非坑长度(*kT)、及介于 该 最短非坑长度(*3T)与该最长非坑长度(*kT)之间的非 坑 长度等三者之一;及一测试图案区域,设于该资料 区域外 侧且记录具有坑及地之测试图案,该测试图案具有 重覆之 预定配置,每一配置均具有下述之坑及地,坑长度 为3T、 mT、nT的其中之一的坑,地长度为*3T、*mT、*nT的其 中之一的地,坑长度为3T、mT、nT的其中之其它一个 的坑 ,地长度为*3T、*mT、*nT的其中之一的地,坑长度为 3T、mT、nT的其中之另外一个的坑,地长度为*3T、*mT 、*nT的其中之其余一个的地;侦测装置,用于侦测 从该 测试图案读取的再生信号之错误率;及补偿装置, 用于补 偿系数再生信号以使该错误率减至最小。9.如申 请专利范围第8项之光碟取还装置,其中该资料区 域界定于,内轨道区域中的引入区域与外轨道区域 中的引 出区域之间,且该测试图案区域提供于该引入区域 中。10.如申请专利范围第8项之光碟取还装置,其 中m与n≧6 ,m≦n,且m与n≦14(=k)。11.如申请专利范围第8项之光 碟取还装置,其中坑具有最 短坑长度3T、最长坑长度14T和该最短坑长度3T与该 最长 坑长度14T之间的预定坑长度4T,5T,6T,7T,8T,9T, 10T,11T,12T或13T的其中之一,且地具有最短非坑长度 *3T、最长非坑长度*14T和该最短非坑长度*3T与该最 长非坑长度*14T之间的预定非坑长度*4T,*5T,*6T ,*7T,*8T,*9T,*10T,*11T,*12T或*13T的其 中之一。12.如申请专利范围第8项之光碟取还装置 ,其中在该测试 图案区域中记录一重覆图案的位元、地与坑,位元 具有坑 长度3T,地具有地长度*6T(m=6),坑具有坑长度7T(n= 7),地具有地长度*3T,坑具有坑长度6T(m=6),及地具 有地长度*7T。13.如申请专利范围第8项之光碟取还 装置,其中一图案的 坑、地与坑等于一码字"0010000010000001",坑具有该坑 长度3T,地具有该地长度*6T(m=6),且坑具有坑长度7T (n=7)。14.如申请专利范围第8项之光碟取还装置,其 中m=6且n =7,且一图案的重覆之坑与地系选自:3T-*6T-7T-*3T -6T-*7T长度、3T-*7T-6T-*3T-7T-*6T长度、6T-*3T -7T-*6T-3T-*7T长度、7T-*3T-6T-*7T-3T-*6T长度 、6T-*7T-3T-*6T-7T-*3T长度、与7T-*6T-3T-*7T- 6T-*3T长度的其中之一。15.一种光碟播放方法,包含 以下步骤:从光碟光学地读 取测试图案及资料作为再生信号,其中该光碟设有 一资料 区域,其上资料记录于一图案的坑与地中,该坑具 有最短 的坑长度(3T)、最长的坑长度(kT)及介于该最短坑 长度( 3T)与该最长坑长度(kT)之间之坑长度等三者之一, 这里T 为波道坑长度,3<m<n<k且n、m与k为整数,该地具有 最短非坑长度(*3T)、最长非坑长度(*kT)、及介于该 最 短非坑长度(*3T)与该最长非坑长度(*kT)之间的非坑 长 度等三者之一;及一测试图案区域,设于该资料区 域外侧 且记录具有坑及地之测试图案,该测试图案具有重 覆之预 定配置,每一配置均具有下述之坑及地,坑长度为3T 、mT 、nT的其中之一的坑,地长度为*3T、*mT、*nT的其中 之一的地,坑长度为3T、mT、nT的其中之其它一个的 坑, 地长度为*3T、*mT、*nT的其中之一的地,坑长度为3T 、mT、nT的其中之另外一个的坑,地长度为*3T、*mT 、 *nT的其中之其余一个的地;侦测从该测试图案读取 的再 生信号之错误率;及补偿一再生信号以使该错误率 减至最 小。16.如申请专利范围第15项之光碟播放方法,其 中该资料 区域界定于,内轨道区域中的引入区域与外轨道区 域中的 引出区域之间,且该测试图案区域提供于该引入区 域中。17.如申请专利范围第15项之光碟播放方法, 其中m与n≧6 ,m≦n,且m与n≦14(=k)。18.如申请专利范围第17项之 光碟播放方法,其中坑具有 最短坑长度3T、最长坑长度14T和该最短坑长度3T与 该最 长坑长度14T之间的预定坑长度4T,5T,6T,7T,8T,9T ,10T,11T,12T或13T的其中之一,且地具有最短非坑长 度*3T、最长非坑长度*14T和该最短非坑长度*3T与该 最长非坑长度*14T之间的预定非坑长度*4T,*5T,* 6T,*7T,*8T,*9T,*10T,*11T,*12T或*13T的 其中之一。19.如申请专利范围第15项之光碟播放 方法,其中在该测 试图案区域中记录一重覆图案的位元、地与坑,位 元具有 坑长度3T,地具有地长度*6T(m=6),坑具有坑长度7T(n =7),地具有地长度*3T,坑具有坑长度6T(m=6),及地 具有地长度*7T。20.如申请专利范围第15项之光碟 播放方法,其中一图案 的坑、地与坑等于一码字"0010000010000001",坑具有该 坑长度3T,地具有该地长度*6T(m=6),且坑具有坑长度 7T(n=7)。21.如申请专利范围第15项之光碟取还装置, 其中m=6且n =7,且一图案的重覆之坑与地系选自:3T-*6T-7T-*3T -6T-*7T长度、3T-*7T-6T-*3T-7T-*6T长度、6T-*3T -7T-*6T-3T-*7T长度、7T-*3T-6T-*7T-3T-*6T长度 、6T-*7T-3T-*6T-7T-*3T长度、与7T-*6T-3T-*7T- 6T-*3T长度的其中之一。22.一种将资料记录于光碟 上之记录方法包含:一资料转 换步骤,将欲被记录之资料转换成等效于坑与地之 图案的 坑资料,该坑具有最短的坑长度(3T)、最长的坑长 度(kT) 及一坑长度介于该最短坑长度(3T)与该最长坑长度 (kT)之 间,这里T为波道坑长度,3<m<n<k且n、m与k为整数, 该地具有最短非坑长度(*3T)、最长非坑长度(*kT)、 及 介于该最短非坑长度(*3T)与该最长非坑长度(*kT)之 间 的非坑长度;一制备测试信号之步骤,此测试信号 等效于 一测试图案区域提供在资料记录区域外侧,且具有 重覆之 坑与地的图案,测试图案具有重覆之预定排列,各 排列含 有坑具有坑长度为3T、mT、nT的其中之一,地具有长 度为 *3T、*mT、*nT的其中之一,坑具有坑长度为3T、mT、 nT的其中之另一个,地具有地长度为*3T、*mT、*nT的 其中之另一个,位元具有坑长度为3T、mT、nT的其中 之另 外一个,地具有地长度为*3T、*mT、*nT的其中之另外 一个;及一记录步骤,将该坑资料记录于该光碟上 的资料 记录区域中,并将该测试信号记录于与该光碟上之 该资料 区域不同的测试图案区域中,二者均在坑与非坑的 图案中 。23.如申请专利范围第22项之记录方法,其中该资 料区域 界定于,内轨道区域中的引入区域与外轨道区域中 的引出 区域之间,且该测试图案区域提供于该引入区域中 。24.如申请专利范围第22项之记录方法,其中m与n ≧6,m ≦n,且m与n≦14(=k)。25.如申请专利范围第22项之记 录方法,其中坑具有最短 坑长度3T、最长坑长度14T和该最短坑长度3T与该最 长坑 长度14T之间的预定坑长度4T,5T,6T,7T,8T,9T,10T ,11T,12T或13T的其中之一,且地具有最短非坑长度* 3T、最长非坑长度*14T和该最短非坑长度*3T与该最 长 非坑长度*14T之间的预定非坑长度*4T,*5T,*6T, *7T,*8T,*9T,*10T,*11T,*12T或*13T的其中 之一。26.如申请专利范围第22项之记录方法,其中 在该测试图 案区域中记录一重覆图案的位元、地与坑,位元具 有坑长 度3T,地具有地长度*6T(m=6),坑具有坑长度7T(n=7) ,地具有地长度*3T,坑具有坑长度6T(m=6),及地具有 地长度*7T。27.如申请专利范围第22项之记录方法, 其中一图案的坑 、地与坑等于一码字"0010000010000001",坑具有该坑长 度3T,地具有该地长度*6T(m=6),且坑具有坑长度7T(n =7)。28.如申请专利范围第22项之光碟取还装置,其 中m=6且n =7,且一图案的重覆之坑与地系选自:3T-*6T-7T-*3T -6T-*7T长度、3T-*7T-6T-*3T-7T-*6T长度、6T-*3T -7T-*6T-3T-*7T长度、7T-*3T-6T-*7T-3T-*6T长度 、6T-*7T-3T-*6T-7T-*3T长度、与7T-*6T-3T-*7T- 6T-*3T长度的其中之一。29.一种将资料记录于光碟 上之记录装置包含:资料转换 步骤,将欲被记录之资料转换成等效于坑与地之图 案的坑 资料,该坑具有最短的坑长度(3T)、最长的坑长度( kT)及 一坑长度介于该最短坑长度(3T)与该最长坑长度(kT )之间 ,这里T为波道坑长度,3<m<n<k且n、m与k为整数,该 地具有最短非坑长度(*3T)、最长非坑长度(*kT)、及 介 于该最短非坑长度(*3T)与该最长非坑长度(*kT)之间 的 非坑长度;制备测试信号之装置,此测试信号等效 于一测 试图案区域提供在该资料区域外侧,且具有重覆之 坑与地 的图案测试图案具有重覆之预定排列,各排列含有 坑具有 坑长度为3T、mT、nT的其中之一,地具有长度为*3T、 * mT、*nT的其中之一,坑具有坑长度为3T、mT、nT的其 中 之另一个,地具有地长度为*3T、*mT、*nT的其中之另 一个,位元具有坑长度为3T、mT、nT的其中之另外一 个, 地具有地长度为*3T、*mT、*nT的其中之另外一个;及 记录装置,将该坑资料记录于该光碟上的资料区域 中,并 将该测试信号记录于与该光碟上之该资料区域不 同的测试 图案区域中,二者均在坑与非坑的图案中。30.如申 请专利范围第29项之记录装置,其中该资料区域 界定于,内轨道区域中的引入区域与外轨道区域中 的引出 区域之间,且该测试图案区域提供于该引入区域中 。31.如申请专利范围第29项之记录装置,其中m与n ≧6,m ≦n,且m与n≦14(=k)。32.如申请专利范围第29项之记 录装置,其中坑具有最短 坑长度3T、最长坑长度14T和该最短坑长度3T与该最 长坑 长度14T之间的预定坑长度4T,5T,6T,7T,8T,9T,10T ,11T,12T或13T的其中之一,且地具有最短非坑长度* 3T、最长非坑长度*14T和该最短非坑长度*3T与该最 长 非坑长度*14T之间的预定非坑长度*4T,*5T,*6T, *7T,*8T,*9T,*10T,*11T,*12T或*13T的其中 之一。33.如申请专利范围第29项之记录装置,其中 在该测试图 案区域中记录一重覆图案的位元、地与坑,位元具 有坑长 度3T,地具有地长度*6T(m=6),坑具有坑长度7T(n=7) ,地具有地长度*3T,坑具有坑长度6T(m=6),及地具有 地长度*7T。34.如申请专利范围第29项之记录装置, 其中一图案的坑 、地与坑等于一码字"0010000010000001",坑具有该坑长 度3T,地具有该地长度*6T(m=6),且坑具有坑长度7T(n =7)。35.如申请专利范围第29项之光碟取还装置,其 中m=6且n =7,且一图案的重覆之坑与地系选自:3T-*6T-7T-*3T -6T-*7T长度、3T-*7T-6T-*3T-7T-*6T长度、6T-*3T -7T-*6T-3T-*7T长度、7T-*3T-6T-*7T-3T-*6T长度 、6T-*7T-3T-*6T-7T-*3T长度、与7T-*6T-3T-*7T- 6T-*3T长度的其中之一。36.如申请专利范围第1项之 光碟,其中表头会被记录于测 试图案区中且测试图案会跟随在表头之后,该表头 系用于 说明实体扇区位址,该实体扇区位址系界定记录于 测试图 案区中的资料为测试图案资料。37.如申请专利范 围第1项之光碟,其中m及n之一系k/2, 其中k系偶数,且︱m-n︱=1。图式简单说明:第一图 为 一方块图,图形地指出依据本发明之第一个实施例 的光碟 装置;第二图为一方块图,指出第一图所示之碟驱 动器的 细部;第三图为一透视图,图形地描述第一图所示 之光碟 的结构;第四图为第一图与第三图所示的光碟之平 面图; 第五图A为一平面图,指出一列的最长坑,作为欲形 成于 第四图所示之光碟上的测试图案;第五图B为一波 形图, 指出第五图A所示之最长坑列所再生的再生信号之 波形; 第六图A为一平面图,指出一列的最短坑,作为欲形 成于 第四图所示之光碟上的测试图案;第六图B为一波 形图, 指出从此最短坑列所再生的再生信号之波形;第七 图为 MTF信号之图形,此信号是由最短坑列、最长坑列和 具有 不同的坑长度位于最短坑长度与最长坑长度之间 的坑列所 再生出来;第八图为一平面图,描述一中央坑列作 为一测 试图案并接合坑列;第九图A为MTF信号之图形,此信 号是 由最短坑列3T、最长坑列11T和具有不同的坑长度5T 、7T 、9T位于最短坑长度与最长坑长度之间的坑列所 再生出来 ;第九图B与第九图C为波形图形,指出由最短坑列3T 与最 长坑列11T作为一测试图案所再生出来的信号;第十 图为 一方块图,指出一倾斜补偿电路,其并入于第一图 所示的 光碟装置中,且使用一测试信号来补偿一再生信号 ;第十 一图为一图形,指出关于测试图案之观念的再生信 号之频 率特性;第十二图为一图形,指出关于测试图案之 含有倾 斜成份的实际再生信号之频率特性;第十三图A表 示一图 形,指出含有倾斜成份的再生信号之频率特性;第 十三图 B表示一图形,指出横向滤波器之频率特性;第十三 图C表 示一图形,指出结合含有倾斜成份的再生信号之频 率特性 与横向滤波器之频率特性,所得到的结合频率特性 ;第十 四图A为一平面图,描述一列的坑指出依据本发明 之另一 个实施例之评估图案;第十四图B为一波形图,指出 来自 第十四图A中之坑列的再生信号;第十五图为一图 形,指 出第十四图A所示之评估图案的资料之结构;第十 六图为 一方块图,指出一倾斜补偿电路,其并入于第一图 所示的 光碟装置,且补偿使用评估图案之再生信号;第十 七图为 一流程图,指出第十六图所示之补偿电路如何补偿 使用第 十四图A所示之评估图案的再生信号;第十八图为 用于编 码图像资料以产生一图像档的编码器系统之方块 图;第十 九图为一流程图,指出第十八图所示之编码器系统 中的编 码程序;第二十图为一流程图,指出如何制备图像 资料的 档案,藉由结合主图像资料、音频资料与由第十五 图之流 程编码的副图像资料;第二十一图与第二十二图为 方块图 ,指出用于将一格式化的图像档记录于光碟上的碟 格式化 系统;第二十三图为一流程图,指出第二十一图与 第二十 二图所示之碟格式器如何制备欲记录于光碟上的 逻辑资料 ;第二十四图为一流程图,指出欲记录于一碟上之 物理资 料如何由逻辑资料制备出来;第二十五图为一图形 ,用于 说明C/N比,其为载波位准对杂讯位准的比;第二十 六图 为一图形,指出一再生系统的频率特性,相对于与 第三组 的测试图案有关的坑列;及第二十七图为一图形, 用于说 明串音特性。
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