| 发明名称 |
Integrated circuit with a test mode detection circuit |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
GB2324613(A) |
申请公布日期 |
1998.10.28 |
| 申请号 |
GB19980007859 |
申请日期 |
1998.04.15 |
| 申请人 |
* HOLTEK MICROELECTRONICS INC |
发明人 |
JASON * CHEN;BAO-SHIANG * SUN;HENRY * FAN |
| 分类号 |
G01R31/317;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G01R31/317 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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