发明名称 一种利用基波信息测量可调谐激光超短脉冲的测量装置
摘要 一种利用基波信息测量可调谐超短激光脉冲的测量装置。本实用新型属于激光参数测量技术领域。它避免了二次谐波相关法的聚焦、倍频、滤波等环节,其信噪比高,色散介质少,适用于可调谐超短激光脉冲的测量,其特征是将基波干涉相关图样用CCD接收,并由计算机处理,最后得出待测脉宽。
申请公布号 CN2295999Y 申请公布日期 1998.10.28
申请号 CN96203874.1 申请日期 1996.02.06
申请人 天津理工学院 发明人 龚正烈;黄正义;詹仰钦;程晓曼;蒋振平;夏秀兰
分类号 G01J11/00 主分类号 G01J11/00
代理机构 天津大学专利代理事务所 代理人 张锐;张安欣
主权项 1.一种利用基波信息测量可调谐超短激光脉冲的测量装置,该装置由柱面凸反射镜[1]、柱面凹反射镜[2]、分束器[3]、光栅[4]、平面反射镜[5]、CCD器件[6]和计算机[7]组成。其特征是:透射光束Dt和反射光束Gr直接进入CCD器件[6],光束Dt和光束Gr所形成的干涉相关图样被CCD器件[6]同步记录其空间光强分布,计算机[7]读取并处理由CCD[6]获得的数据,由该数据计算基波相关曲线的等值宽度。
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