发明名称 | 一种利用基波信息测量可调谐激光超短脉冲的测量装置 | ||
摘要 | 一种利用基波信息测量可调谐超短激光脉冲的测量装置。本实用新型属于激光参数测量技术领域。它避免了二次谐波相关法的聚焦、倍频、滤波等环节,其信噪比高,色散介质少,适用于可调谐超短激光脉冲的测量,其特征是将基波干涉相关图样用CCD接收,并由计算机处理,最后得出待测脉宽。 | ||
申请公布号 | CN2295999Y | 申请公布日期 | 1998.10.28 |
申请号 | CN96203874.1 | 申请日期 | 1996.02.06 |
申请人 | 天津理工学院 | 发明人 | 龚正烈;黄正义;詹仰钦;程晓曼;蒋振平;夏秀兰 |
分类号 | G01J11/00 | 主分类号 | G01J11/00 |
代理机构 | 天津大学专利代理事务所 | 代理人 | 张锐;张安欣 |
主权项 | 1.一种利用基波信息测量可调谐超短激光脉冲的测量装置,该装置由柱面凸反射镜[1]、柱面凹反射镜[2]、分束器[3]、光栅[4]、平面反射镜[5]、CCD器件[6]和计算机[7]组成。其特征是:透射光束Dt和反射光束Gr直接进入CCD器件[6],光束Dt和光束Gr所形成的干涉相关图样被CCD器件[6]同步记录其空间光强分布,计算机[7]读取并处理由CCD[6]获得的数据,由该数据计算基波相关曲线的等值宽度。 | ||
地址 | 300191天津市南开区红旗路263号 |