发明名称 | 变色核径迹微孔薄膜防伪标志及其鉴别方法 | ||
摘要 | 本发明涉及一种变色核径迹微孔薄膜防伪标志及其鉴别方法,该防伪标志由核径迹防伪膜、胶粘剂、变色层和支撑层等组成。其制备方法是先用中子轰击的裂变碎片辐照塑料薄膜,用紫外线在薄膜上成像,最后用化学试剂蚀刻,制得核径迹膜,然后,在胶粘剂中加入变色试剂,将此变色物质涂在支撑层上,在核径迹防伪膜的非图案部分涂布胶粘剂,然后将其贴合在变色层上,即得防伪标志。本发明具有防伪效果好,使用鉴别方便和实用的特点。 | ||
申请公布号 | CN1195152A | 申请公布日期 | 1998.10.07 |
申请号 | CN97125899.6 | 申请日期 | 1997.12.26 |
申请人 | 清华大学 | 发明人 | 何向明;严玉顺;张泉荣;万春荣;姜长印;王守忠 |
分类号 | G09F3/00 | 主分类号 | G09F3/00 |
代理机构 | 清华大学专利事务所 | 代理人 | 罗文群 |
主权项 | 1、一种变色核径迹微孔薄膜防伪标志,其特征在于该防伪标志由核径迹防伪膜、胶粘剂、变色层和支撑层组成,其制备方法包括下列各步骤:(4)制作核径迹防伪膜:选用厚度为5-25μm的透明塑料薄膜为原材料,利用核反应堆产生的中子轰击铀-235使其放出裂变碎片,利用裂变碎片来辐照塑料薄膜,反应堆功率为1-5000千瓦,辐照时间为0.1-300秒,或利用高能离子加速器产生的重离子来辐照塑料薄膜,辐照时间为0.5-200秒,再利用紫外线通过成象底片或模板对辐照后的塑料薄膜成象,紫外线灯功率为500-2000瓦,灯与薄膜的距离为0.1-50cm,成象时间为10秒-180分钟,最后用化学试剂对塑料薄膜进行选择性部分蚀刻,蚀刻剂为NaOH、KOH或H2SO4溶液,蚀刻时间为1-180分钟,蚀刻出清晰的图案后,洗涤晾干,形成核径迹膜防伪;(2)制作变色物质:在胶粘剂中加入0.1-70%的变色试剂,搅拌均匀;(3)把变色物质涂布或印刷在支撑层上,干燥:(4)在核径迹防伪膜的非图案部分,涂布或印刷上普通胶粘剂,然后粘贴或覆合在变色层上,即得防伪标志。 | ||
地址 | 100084北京市海淀区清华园 |