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发明名称
Semiconductor memory and screening test method thereof
摘要
申请公布号
EP0543408(B1)
申请公布日期
1998.10.07
申请号
EP19920119825
申请日期
1992.11.20
申请人
KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA
发明人
KUSHIYAMA, NATSUKI;FURUYAMA, TOHRU;NUMATA, KENJI
分类号
G11C29/02;G11C29/24;G11C29/50;(IPC1-7):G11C29/00
主分类号
G11C29/02
代理机构
代理人
主权项
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