| 发明名称 |
METHOD AND SYSTEM FOR CONTROLLING PROCESS OF SEMICONDUCTOR SILICON SINGLE-CRYSTAL WAFER |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH10261555(A) |
申请公布日期 |
1998.09.29 |
| 申请号 |
JP19970083323 |
申请日期 |
1997.03.17 |
| 申请人 |
SHIN ETSU HANDOTAI CO LTD |
发明人 |
TOYAMA KOHEI |
| 分类号 |
H01L21/304;H01L21/00;H01L21/02;(IPC1-7):H01L21/02 |
主分类号 |
H01L21/304 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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