发明名称 전자현미경용 파괴시료 냉각장치
摘要 본 고안은 시료를 냉각파괴시키고 그 파괴된 시료의 파단면형상을 관찰 분석하는 전자현미경 저온 시료파괴 시험장치에 있어서 시료 냉각장치의 개선에 관한 것이다. 본 고안에 따른 장치는 액체질소통(1)내의 액체질소에 의한 극저온이 세라믹 냉각전달봉(9) 및 구리 냉각전달봉(12)을 통해 파괴실 본체(4)내의 시료(14)에 직접 전달되고, 또 발광다이오드(16) 및 온도저항소자(17)를 포함하는 회로구성에 의해 시료의 냉각상태파악 및 냉각정도제어가 가능하여 시료(14)를 그 시료(14)에 상응하는 적합한 온도를 신속 정확하게 냉각시켜 파괴시험을 행할 수 있고, 이로써 관련 분석 작업능률 및 분석정도의 현저한 향상을 가져올 수 있는 효과를 제공한다.
申请公布号 KR19980042941(U) 申请公布日期 1998.09.25
申请号 KR19960056047U 申请日期 1996.12.24
申请人 null, null 发明人 권혁대;신광수
分类号 G01N3/18 主分类号 G01N3/18
代理机构 代理人
主权项
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