发明名称 |
METHOD AND EQUIPMENT FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR WAFER FOR EVALUATION |
摘要 |
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申请公布号 |
JPH10256332(A) |
申请公布日期 |
1998.09.25 |
申请号 |
JP19970060921 |
申请日期 |
1997.03.14 |
申请人 |
SUPER SILICON KENKYUSHO:KK |
发明人 |
HAJIME TAKAFUMI |
分类号 |
G01N1/00;G01N1/28;H01L21/304;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 |
主分类号 |
G01N1/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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