INTEGRATED CIRCUIT WITH A MEMORY AND A CONTROL CIRCUIT

摘要

Der Speicher (2) ist durch die Prüfschaltung (3) prüfbar und mit dieser über Datenleitungen (D1, D2), Adressleitungen ADR und Steuerleitungen (RAS, CAS, OE) verbunden, von denen wenigstens eine über ein Schaltmittel geführt ist. Das Schaltmittel (L, G) ist über einen externen Anschluss (6, 7) der integrierten Schaltung (1) steuerbar, so dass der Signalverlauf auf der entsprechenden Leitung und damit der Zeitablauf der Prüfung extern beeinflussbar ist. Die Erfindung eignet sich insbesondere für die Realisierung von Selbsttests integrierter Speicherkerne.