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发明名称 Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten
摘要
申请公布号 DE19709939(A1) 申请公布日期 1998.09.17
申请号 DE19971009939 申请日期 1997.03.11
申请人 ATG TEST SYSTEMS GMBH REICHOLZHEIM, 97877 WERTHEIM, DE 发明人 HUTH, RALF, 72800 ENINGEN, DE;GILLIG, THOMAS, 97264 HELMSTADT, DE;ROTHAUG, UWE, 97828 MARKTHEIDENFELD, DE
分类号 G01N21/956;G01R31/309;(IPC1-7):G01N21/88;G01R31/28;G01R31/303 主分类号 G01N21/956
代理机构 代理人
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