发明名称 | 半导体异质结构及其制造方法以及半导体装置 | ||
摘要 | 本发明提供一种在GaAs基片上生长结晶缺陷少的GaInAs层或AeInAs层的高质量半导体的异质结构及其制造方法。利用在GaAs基片上由非晶状态进行单结晶而形成的缓冲层,封闭因晶格不匹配而产生的失配位错。 | ||
申请公布号 | CN1193182A | 申请公布日期 | 1998.09.16 |
申请号 | CN97123122.2 | 申请日期 | 1997.11.19 |
申请人 | 三菱电机株式会社 | 发明人 | 早藤纪生;山本佳嗣 |
分类号 | H01L21/20 | 主分类号 | H01L21/20 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 姜郛厚;叶恺东 |
主权项 | 1、一种半导体异质结构,至少具有GaAs半导体基片和形成于该GaAs半导体基片上的GaInAs层或AlInAs层,其特征在于:通过在所述GaAs半导体基片上使非晶状态的GaInAs或AlInAs单结晶化而构成的1个或2个以上的GaInAs缓冲层或AlInAs缓冲层,并形成所述GaInAs层或AlInAs层而构成。 | ||
地址 | 日本东京都 |