发明名称 半导体异质结构及其制造方法以及半导体装置
摘要 本发明提供一种在GaAs基片上生长结晶缺陷少的GaInAs层或AeInAs层的高质量半导体的异质结构及其制造方法。利用在GaAs基片上由非晶状态进行单结晶而形成的缓冲层,封闭因晶格不匹配而产生的失配位错。
申请公布号 CN1193182A 申请公布日期 1998.09.16
申请号 CN97123122.2 申请日期 1997.11.19
申请人 三菱电机株式会社 发明人 早藤纪生;山本佳嗣
分类号 H01L21/20 主分类号 H01L21/20
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 姜郛厚;叶恺东
主权项 1、一种半导体异质结构,至少具有GaAs半导体基片和形成于该GaAs半导体基片上的GaInAs层或AlInAs层,其特征在于:通过在所述GaAs半导体基片上使非晶状态的GaInAs或AlInAs单结晶化而构成的1个或2个以上的GaInAs缓冲层或AlInAs缓冲层,并形成所述GaInAs层或AlInAs层而构成。
地址 日本东京都