发明名称 반도체패키지의 리드 들림 검사장치
摘要 본 고안은 반도체패키지의 리드 들림을 손쉽고 정확하게 확인할 수 있도록 한 것이다. 이를 위해, 본 고안은 상면이 고정도의 평판대(1a)인 평탄대(1)와, 상기 평탄대(1)의 상면으로부터 일정간격 이격된 오버행면(3)이 하부에 형성됨과 동시에 상기 평탄대(1) 상면을 따라 수평으로 이동가능하게 안착되는 인스펙션 블록(4)으로 구성된 반도체패키지의 리드 들림 검사장치이다.
申请公布号 KR19980036858(U) 申请公布日期 1998.09.15
申请号 KR19960049871U 申请日期 1996.12.16
申请人 null, null 发明人 이기한
分类号 H01L23/50 主分类号 H01L23/50
代理机构 代理人
主权项
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