반도체 프로브 테스트 카드

摘要

본 고안은 단순화된 반도체 프로브 테스트 카드가 개시된다. 개시된 본 고안은 반도체 소자의 적소를 콘택하는 다수개의 니들을 구비하는 반도체 프로브 카드로서, 단일 프로브 카드내에 반도체 다이내에 형성된 소자를 콘택하는 프리 테스트용 니들과, 반도체 다이를 둘러싼 스크라이브 라인내에 형성된 소자를 콘택하는 EPM용 니들을 구비하는 것을 특징으로 한다.