| 摘要 |
<p>Offenbart wird ein Verfahren zum Rekonstruieren von Mustern anhand einer aus N Mustern bestehenden Stichprobe, wobei jedes Muster der Stichprobe durch eine Menge von Merkmalen repräsentiert wird und wobei jedes zu rekonstruierende Muster mindestens ein fehlendes, unvollständiges oder gestörtes Merkmal aufweist. Die Erfindung schlägt vor, für jedes zu rekonstruierende Muster aus der Stichprobe mindestens ein Muster auszuwählen, das dem zu rekonstruierenden Muster maximal ähnlich ist, und die fehlenden bzw. unvollständigen bzw. gestörten Merkmale des zu rekonstruierenden Musters durch die entsprechenden Merkmale des bzw. der ausgewählten Muster ersetzen, wobei die diese beiden Schritte für jedes zu rekonstruierende Muster durchgeführt werden. <IMAGE></p> |
