发明名称 SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE
摘要
申请公布号 JPH10223706(A) 申请公布日期 1998.08.21
申请号 JP19970027801 申请日期 1997.02.12
申请人 YOKOGAWA ELECTRIC CORP 发明人 KAGAMI TETSUYA;UEHARA SHOJI
分类号 G01R31/28;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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