发明名称 Vorrichtung und Verfahren zur transversalen Positionsmessung für Nah-Abstand-Lithographiesysteme
摘要
申请公布号 DE69128771(T2) 申请公布日期 1998.08.20
申请号 DE19916028771T 申请日期 1991.10.07
申请人 HOLTRONIC TECHNOLOGIES LTD., LONDON, GB 发明人 CLUBE, FRANCIS S.M., CH-2000-NEUCHATEL, CH
分类号 G03F1/08;G03F9/00;G03H1/00;H01L21/027;(IPC1-7):G03F9/00 主分类号 G03F1/08
代理机构 代理人
主权项
地址