摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur pixel- und zeilenweisen optoelektronischen Abtastung von gerasterten Bildvorlagen mit einem Abtastgerät. Vor der eigentlichen Abtastung wird in der gerasterten Bildvorlage mindestens ein das Raster enthaltender Vorlagenbereich (Rasterbereich) festgestellt. Anschließend werden die im Ortsbereich vorliegenden Bildwerte des festgestellten Rasterbereiches der Bildvorlage durch eine Fourier-Transformation in den Frequenzbereich als Ortsfrequenzspektrum überführt und aus dem Ortsfrequenzspektrum Rasterweite und Rasterwinkel des Rasters der Bildvorlage festgestellt. Für den festgestellten Rasterwinkel und die festgestellte Rasterweite des Rasters der Bildvorlage werden die für eine Moiré-freie Abtastung optimalen Abtastfrequenzen (fAx; fAy) aus dem Ortsfrequenzspektrum ermittelt. Die Abtastfeinheit bestimmenden optimalen Abtastfrequenzen (fAx; fAy) werden an dem Abtastgerät eingestellt und anschließend wird die gerasterte Bildvorlage mit den eingestellten optimalen Abtastfrequenzen (fAx; fAy) zur Gewinnung der für die Reproduktion der gerasterten Bildvorlage erforderlichen Bildwerte abgetastet.</p> |